Nome da Atividade
TÓPICOS EM SÍNTESE E CARACTERIZAÇÃO DE SISTEMAS NANOESTRUTURADOS
CÓDIGO
0098163
Carga Horária
34 horas
Tipo de Atividade
DISCIPLINA
Periodicidade
Semestral
Unidade responsável
CRÉDITOS
2
CARGA HORÁRIA TEÓRICA
2
CARGA HORÁRIA OBRIGATÓRIA
2
FREQUÊNCIA APROVAÇÃO
75%
Ementa
Nanoescala, Métodos Físicos de Síntese, Métodos Químicos de Síntese, Técnicas de Caracterização:
Microscopia Eletrônica, Espectroscopia Raman e Ultravioleta–Visível, Difração de Raios X, Espectroscopias
de Absorção de Raios-X, Espectroscopia de fotoluminescência e Radioluminescência (tempo de vida e
eficiência), espectroscopia de ressonância paramagnética (EPR).
Microscopia Eletrônica, Espectroscopia Raman e Ultravioleta–Visível, Difração de Raios X, Espectroscopias
de Absorção de Raios-X, Espectroscopia de fotoluminescência e Radioluminescência (tempo de vida e
eficiência), espectroscopia de ressonância paramagnética (EPR).
Objectives
Objetivo Geral:
Conteúdo Programático
1. Propriedades Físicas e Estruturais de Nanocristais.
2. Métodos Físicos para Síntese de Nanocristais.
3. Métodos Químicos para Síntese de Nanocristais.
4. Técnicas de Caracterização estrutural e eletrônicas
5. Microscopia Eletrônica
6. Espectroscopia Raman e Ultravioleta–Visivel.
7. Difração de Raios X
8. Espectroscopias de Absorção de Raios-X.
9. Espectroscopia de Fotoluminescência e Radio-Luminescência.
2. Métodos Físicos para Síntese de Nanocristais.
3. Métodos Químicos para Síntese de Nanocristais.
4. Técnicas de Caracterização estrutural e eletrônicas
5. Microscopia Eletrônica
6. Espectroscopia Raman e Ultravioleta–Visivel.
7. Difração de Raios X
8. Espectroscopias de Absorção de Raios-X.
9. Espectroscopia de Fotoluminescência e Radio-Luminescência.
Bibliografia
Bibliografia Básica:
- Nanocrystals. Synthesis, Properties and Applications, C.N.R. Rao, F.R.S., P.J. Thomas, G.U. Kulkarni, Springer-Verlag, Berlin Heidelberg, 2007.
- Introduction to Solid States Physics, seventh edition, C. Kittel, John Wiley & Sons, Inc., New York, 1996.
- Solid State Physics, N. W. Ashcroft, N. D. Mermin, Holt, Saunders College Publishers, Fort Worth, 1976.
Bibliografia Complementar:
- Introduction to Solid State Theory, O. Madelung, Springer Verlag, 1981.
- Elements of x-ray diffraction, second edition, B.D. Cullity, Addison-Wesley Pub. Co., 1978 Original from the University of Michigan.
- Mycroscopy and Analysis, third edition, P.J. Goodhew, J. Humphreys, R. Beanland, Taylor & Francis INC, London, 2001.
- Modern Raman Spectroscopy, A Practical Approach, E. Smith, G. Dent, John Wiley & Sons Ltd, Chichester, West Sussex PO19 8SQ, England, 2005.
- INTRODUCTION TO XAFS - A Practical Guide to X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy, G. Bunker, Cambridge University Press, Cambridge, 2010.
- Young, R.A.(1993), The Rietveld Method, Oxford: University Press. (ISBN 0 19 8555776), Chapter 2: by Hugo Rietveld.
- A. Kitai, Luminescenct Materials and applications, John Wiley & Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, West Sussex PO19 8SQ, England.