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Objetivo Geral:

Gerais
Capacitar o aluno quanto a teoria e aplicação das principais técnicas de espectroscopia, de difratometria, de microscopia na caracterização de materiais.

Específicos
Apresentar aos alunos os fundamentos e aplicação das principais técnicas de caracterização de materiais;
Abordar questões relativas à instrumentação, procedimentos analíticos, resultados típicos e aplicações ilustrativas;
Trabalhar os conhecimentos adquiridos de forma interdisciplinar;
Proporcionar a análise crítica do fazer ciência e das técnicas apresentadas.

Bibliografia Básica:

• CANEVAROLO JUNIOR, S. V. Técnicas de Caracterização de Polímeros. São Paulo: ArtLiber, 2004.
• CULLITY, B.D.; STOCK, S.R. Elements of X-ray Diffaction. 3th. ed. New Jersey: Prentice Hall, 2003.
• FLEWITT, P.E.J.; WILD, R.K. Physical Methods for Materials Characterization. 2nd. ed., London: CRC Press, 2001.
• ATKINS, P.W. Físico-Química, vol. 1 e 2, Rio de Janeiro: Livros Técnicos e Centíficos, 1996.
• HARRIS, D.C. Análise Química Quantitativa. 5. ed. Rio de Janeiro:LTC, 2001.

Bibliografia Complementar:

• GIACOVAZZO, C.; MONACO, H.L.; ARTIOLI, G.; VITERBO, D.; FERRARIS, G.; GILLI, G.; ZANOTTI, G.; CATTI, M. Fundamentals of Crystallography. 2nd. ed. UK:OUP/International Union of Crystallography, 2002.
• CALLISTER, William D. Ciência e engenharia de materiais: uma introdução. 5. ed. Rio de Janeiro: LTC, 2002. 589.
• KLUG, H. P.; ALEXANDER, L. E. X-Ray Diffraction Procedures: For Polycrystalline and Amorphous Materials. 2nd ed. New York:John Wiley and Sons, 1974.
• SOUZA SANTOS, P. Ciência e Tecnologia de Argilas. 2. ed. São Paulo:Edgard Blucher, 1992.