Nome da Atividade
CONCEPÇÃO E TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS
CÓDIGO
22000731
Carga Horária
60 horas
Tipo de Atividade
DISCIPLINA
Periodicidade
Semestral
Unidade responsável
CRÉDITOS
4
CARGA HORÁRIA TEÓRICA
4
CARGA HORÁRIA OBRIGATÓRIA
4
FREQUÊNCIA APROVAÇÃO
75%
Ementa
Conceitos e evolução da integração VLSI. Materiais semicondutores: o transistor MOS. Portas lógicas CMOS. Processo de fabricação CMOS básico. Regras de projeto CMOS e edição de leiaute. Modelos do transistor MOS: capacitâncias de gate, canal, difusão; capacitâncias parasitas do layout. Simulação elétrica. Tipos de implementação. Etapas de teste no projeto de Circuitos Integrados. Teste funcional e teste estrutural. Modelo e simulação de falhas. Geração de teste.
Objectives
Objetivo Geral:
Permitir a compreensão das etapas da concepção, do projeto, da fabricação e do teste de circuitos integrados. Compreensão das métricas utilizadas para caracterizar circuitos integrados digitais, considerando seus dispositivos básicos. Análise dos circuitos integrados em relação ao atraso, a potência dissipada e a área.Conteúdo Programático
Fluxo de projeto de circuitos digitais (full-custom, standard-cell, etc);
Métodos para síntese e avaliação de circuitos digitais;
Bibliotecas de células/caracterização dos circuitos;
CMOS, Pseudo-NMOS, DCVSL, PTL, etc.;
Geração de redes de transistores;
Análise comparativa de diferentes famílias lógicas;
Aplicações das diferentes famílias lógicas;
Medidas de atraso e desempenho em circuitos digitais;
Dissipação de potência estática e dinâmica;
Dimensionamento de transistores;
Métodos de estimativa para área, atraso e potência;
Projeto de leiaute de circuitos integrados;
Impacto do leiaute do circuito em termos de área, atraso e potência;
Teste em circuitos integrados.
Métodos para síntese e avaliação de circuitos digitais;
Bibliotecas de células/caracterização dos circuitos;
CMOS, Pseudo-NMOS, DCVSL, PTL, etc.;
Geração de redes de transistores;
Análise comparativa de diferentes famílias lógicas;
Aplicações das diferentes famílias lógicas;
Medidas de atraso e desempenho em circuitos digitais;
Dissipação de potência estática e dinâmica;
Dimensionamento de transistores;
Métodos de estimativa para área, atraso e potência;
Projeto de leiaute de circuitos integrados;
Impacto do leiaute do circuito em termos de área, atraso e potência;
Teste em circuitos integrados.
Bibliografia
Bibliografia Básica:
Turmas Ofertadas
| Turma | Período | Vagas | Matriculados | Curso / Horários | Professores | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2025 / 2 | 24 | 0 |
Computação (Mestrado acadêmico) Computação (Doutorado) Horários
|
LEOMAR SOARES DA ROSA JUNIOR Professor responsável pela turma |
Disciplinas Equivalentes
| Disciplina | Curso |
|---|---|
| CONCEPÇÃO E TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS | Computação (Mestrado acadêmico) |
| CONCEPÇÃO E TESTE DE CIRCUITOS INTEGRADOS | Computação (Doutorado) |