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Objetivo Geral:

Auxiliar o aluno na compreensão de métricas utilizadas para caracterizar circuitos integrados digitais, considerando seus dispositivos mais básicos. Deste modo, o aluno poderá analisar circuitos integrados em relação a atraso, potência dissipada e área.

1. Fluxo de projeto de circuitos digitais (full-custom, standard-cell, etc).
2. Métodos para síntese e avaliação de circuitos digitais.
3. Bibliotecas de células/caracterização dos circuitos.
4. Famílias lógicas: CMOS, Pseudo-NMOS, DCVSL, PTL, etc.
5. Geração de redes de transistores.
6. Análise comparativa de redes de transistores.
7. Aplicações das diferentes famílias lógicas.
8. Medidas de atraso e desempenho.
9. Dissipação de potência estática e dinâmica.
10. Dimensionamento de transistores.
11. Métodos de estimativa para área, atraso e potência.
12. Projeto de leiaute de circuitos integrados. Impacto do leiaute do circuito em termos de área, atraso e potência.

Bibliografia Básica:

• WESTE, Neil H. E.; DAVID, Harris. CMOS VLSI design: a circuits and systems perspective. 3. ed. Boston: Pearson Addison Wesley, 2004. 967 p. ISBN 0321149017
• RABAEY, Jan M.; CHANDRAKASAN, Anantha; NIKOLIC, Borivoje. Digital integrated circuits : a design perspective. 2. ed. New Delhi: Prentice-Hall of India, 2003. 761 p. ISBN 8120322576
• BAKER, R. Jacob. CMOS: circuit design, layout, and simulation. New York: IEEE, 1998. 902 p. ISBN 0780334167

Bibliografia Complementar:

• UYEMURA, John P., CMOS Logic Circuit Design. Kluwer Academic Publishers, February 1999 ISBN 0-7923-8452-0
• REIS, Ricardo A. da Luz. Concepção de Circuitos Integrados. Editora Bookman. ISBN 8554106255
• GARCÍA ROZA, Antonio. Sistemas digitales : metodologias de diseño VLSI. Bogotá : CYTED :Uniandes,Universidade de los Andes. Facultad de Inginiería. Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrônica, 2003. ISBN 9586950751
• REIS, Ricardo. VLSI : integrated systems and silicon. London : Champman & Hall, 1997. ISBN 0412823705
• WANG, Laung-Terng. Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test. Editora Morgan Kaufmann. ISBN 9780123743640